장비개요

- 원리/용도 : 물질 및 재료의 전도성의 척도를 일정한 단면적을 가진 체적에 일정전류를 흘려 떨어진 전극 간의 전위차를 측정하는 장비
- 도입 목적 : KS M ISO 2409, ASTM Standard F84-99규격 평가 대응
​

주요제원
Probe stand for samples 10 to 100mm
Source meter range : 1mΩ to 800kΩ
Probe tip material : Tungsten Carbide
Tip radius : 0.250mm
Spacing between tips : 0.050 inches

​